薄膜测厚仪

薄膜测厚仪 

薄膜测厚仪执行标准：GB/T6672、GB/T451.3、GB/T6547、ASTMD645、ASTMD374、ASTMD1777、TAPPIT411、ISO4593、ISO534、ISO3034、DIN53105、DIN53353  

多重测试模式薄膜测厚仪技术指标：  

测量范围：0～2mm（常规）  

0～6mm；12mm（可选）  

分辨率：0.1μm  

测量速度：15次/min（可调）  

测量压力：17.5±1kPa（薄膜）；50±1kPa（纸张）  

接触面积：50mm2（薄膜）；200mm2（纸张）  

注：薄膜、纸张任选一种；非标可定制  

产特点：  

32位嵌入式系统控制技术  

触摸屏操作  

所有操作均可在一个平面内完成，无须进入退出操作  

TFT真彩色液晶显示  

接触式厚度测量  

测试过程自动化完成  

手动、自动双重测量模式  

可采用标准厚度计量工具标定、检验  

符合多种标准规定，标准接触面积、测量压力（可定制）  

量程可调（可根据要求定制）  

配置微型打印机，可自动打印试验数据  

可支持DSM实验室数据管理系统，实现数据统一管理（选购）

想要了解更多详细信息，请咨询站内：http://www.systester17.com/systester-Products-24660187/

http://www.chem17.com/st258675/product_24660187.html